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3D 激光扫描显微系统 (LSM)
发布时间: 2014-03-24
浏览次数: 95

仪器设备指标

厂家:Keyence

型号:VK-X100/X200

分辨率:Z向0.5 nm,X向1 nm,高度范围0-7 mm

用途:VK-X 系列 3D 激光扫描显微系统扩展了激光显微镜的功能,兼具光学显微镜、粗糙度仪、激光轮廓仪和扫描电子显微系统的特性,既可以快速得到被观察样品的3D外观形貌以及3D尺寸,通过丰富的分析软件可以获得材料的粗糙度、厚度、表面凹凸的数量、体积和比表面积以及颗粒度。

联系途径

实验室:凌峰楼301室

电话:13860160151 

E-mail:wangyange@xmu.edu.cn

仪器管理组

王衍戈


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