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利用环形暗场像-扫描透射电子显微镜 (ADF-STEM)探索单层二硫化钼中的原子缺陷、 迁移动力学及相关动力学途径
发布时间: 2016-04-17
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题目:

利用环形暗场像-扫描透射电子显微镜 (ADF-STEM)探索单层二硫化钼中的原子缺陷、 迁移动力学及相关动力学途径

讲座人:

金传洪 教授 

时间:

2016年4月18日(周一) 上午10-12点

地点:

科学楼411

内容:

金传洪 浙江大学材料科学与工程学院教授,博士生导师,中组部  “青年千人计划”入选者,“优秀青年科学基金”获得者。本科毕业于清华大学,博士毕业于中科院物理研究所。曾在日本国立产业技术综合研究所做博士后,后留任日本国立产业技术综合研究所从事研究工作。已在Nat.  Nanotech., Phys. Rev. Lett., Nat. Commun., ACS Nano., Nano  Lett.等期刊发表多篇文章。目前研究领域包括碳基纳米材料和二维原子晶体的原子尺度原子和电子结构表征,低加速电压球差校正电镜成像技术,液体环境的透射电子显微成像技术开发和应用,能源材料的微结构-性能关联表征。

欢迎各位老师和课题组同学参加!


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